DM2100型X荧光多元素分析仪已获发明专利证书,仿冒必究
本公司推出的改进的不含同位素放射源的DM2100型X荧光多元素分析仪已于2010年3月3日获国家发明专利权,专利号为:ZL200610025556.1。
该发明专利是本公司所获得的第一个发明专利,它的获得进一步证明了我公司科技水平已达到国内领先的程度,是国内同行中的领先者。
在此,我们尊重声明:任何单位和个人均不得仿冒生产该X荧光多元素分析仪,违者将追究其法律责任。目前,我们已发现有些企业仿冒本公司的产品并在进行销售,我们正告他们,必须停止对本公司的侵权行为,本公司将保留追诉的权力。
DM2100型X荧光多元素分析仪是在同档次中唯一得到广大用户认可的,能同时测量Al、Si、S、Ca、Fe的X荧光多元素分析仪。目前用户已达数近千家,均反映良好。
DM2100型X荧光多元素分析仪还获得全国首张辐射豁免证书,是真正的无任何辐射污染的绿色产品。
上海爱斯特电子有限公司
20010年3月30日