有关XRF的常见术语和问答（3）

和峰

和峰（Sum Peak）是由于2个光子正好同时撞击探测器而产生的伪峰。这2个光子被探测器捕获，被识别为1个光子，如果2个光子能量相同，则和峰是正常能量的二倍。在具有高元素浓度的XRF光谱中更突出，可以通过降低计数率来降低和峰。

逃逸峰

由于探测器中物质（如Si）吸收光子的一些能量而引起的伪峰（E观察到＝E入射 - E Si，E Si＝1.74 keV）。当进入探测器的X 射线光子能量高于探测器物质的吸收限能量时，因该物质对本身被激发的特征X 射线呈现出高度的透明，而导致这部分能量的逃逸，结果在能谱上除了入射X 射线的主峰外，还会在较低能量位置出现一个逃逸峰（Escape peak），在具有高浓度元素和低Z元素的XRF光谱中更突出。

逃逸峰高度约为主峰的1/ 1000 到2/100，通常仅在强度取对数坐标的谱图中明显可见,而且原子序数大于30 的元素已基本不存在逃

光谱干扰

光谱干扰是在光谱中与待分析的元素的谱峰（感兴趣区域）重叠的峰。如： K线和L线重叠：S的K线和Mo的L线，Cl的K和Rh的L线，As的K和Pb的L线等；相邻元素重叠：Al和Si，S和Cl，K和Ca等。探测器的分辨率决定重叠程度。





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能量分辨率

能量分辨率（Energy resolution）是指，针对两种不同能量的入射粒子，探测器所能够测定最小的能量间隔。能量分辨率定义为FWHM(全能峰高度一半处的峰宽度)与峰位能量的比值，或直接用FWHM表示，但需指明峰为能量。它表征了探测器对不同能量射线的辨能力，因此是谱仪探测器最重要的性能指标。

能量分辨率与产生一个电子一空穴对所需的能量、入射粒子的能量等有关，还受探测器材料的反向漏电流、结电容、温度、电子学噪声和反向偏压等因素的影响。实际测得的能量分辨率与探测器输出信号的产生、传递、转换、放大与收集等过程有关。若有用信号越强，干扰因素越弱，则能量分辨率越好。

基体效应

基体（Matrix）是样品中不包括分析元素本身的其他组成。

基体效应（Matrix Effects）就是样品的基本化学组成和物理化学状态差异对分析线强度的综合影响。

基体效应通常分为二类，吸收增强效应和物理化学效应。




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